数字比重计MD-04连续测定液体的比重 MALCOM数字比重计MD-04产品特点: 代替玻璃浮指的比重计 连续测定液体的比重 MALCOM数字比重计MD-04产品规格: 项目 规格 测定范围 0.700~1.750 ※0.800~0.900、1.000~1.100等任意设定(定购的时候*) 间距(幅) 0.1的时候 例:0.800~0.900、1.200~1.300 间距(幅) 0.2的时候 例:0.800~1.000、1.200~1.400 精度 ±0.003 ※1 间距(幅) 0.1的时候 浮指50cm3规格→±0.003 间距(幅) 0.2的时候 浮指25cm3规格→±0.006 表示 7部分 4桁红色LED 记录计输出 比重:0~1V(0~10mV、4~20mA) ※2 传感器线长度 3m(可延长) 使用周围温度 0℃~50℃ 电源 AC100V~240V 50/60Hz 选项 数字式输出RS232C (B9600,C8,Np,S1) 重量 360g ※1 比重精度如果是使用了常温的时候,浮指50cm3的精度。 ※2 记录计输出成为购买的时候的输出形式。(通常0~1v) 了解更多/precision_measurement/md-04.htm MALCOM数字比重计MD-04相关产品: 衡鹏供应 MALCOM MD-9900/MD-03/MD-04数字比重计 MALCOM HD-1便携式比重仪
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GNX200BP晶圆研磨是一款全自动的连续向下进给研磨机 GNX200BP全自动晶圆研磨机概要: GNX200BP晶圆研磨机是一款全自动的连续向下进给研磨机。晶圆由机械手通过机器进行处理,并装载/卸载臂。在较终研磨站之后,使用两个不同的站进行晶片清洁。卡盘转速,砂轮转速和砂轮主轴下降速度可以用来控制砂轮的产量,表面光洁度和砂轮寿命。两点制程量规测量系统控制磨削主轴1和2下的晶片厚度。三点磨削主轴角
50μm晶圆解键合机wafer debonder 50μm晶圆解键合机wafer debonder特点: 4”-8”/8”-12”晶圆适用,可应对薄晶圆的解键合。 解键合机智能测绘料篮内晶圆,兼容晶圆料篮、晶圆盒装卸料。 解键合机可对已键合晶圆进行自动校正。 可定制真空热压/UV/激光等方式实现解键合(Wafer Debonding)。 晶圆解键合机配有高精度机械手,可自动撕除晶圆临时键合所用到的
半自动晶圆减薄前贴膜机STK-6120 半自动晶圆减薄前贴膜机STK-6120规格: 晶圆尺寸:8”& 12”晶圆; 常规产品厚度:200~750微米; Bump产品厚度:晶圆 200~400微米; 凸块 50~200微米; 晶圆翘曲:≤5mm; 晶圆种类:硅, 砷化镓或其它; 单平边,V型缺口; 胶膜种类:蓝膜或者UV膜; 宽度:240~340毫米; 长度:100米; 厚度:0.05~0.2毫米
OKAMOTO晶圆研磨机GNX200B同时实现BG贴膜 OKAMOTO晶圆研磨机GNX200B特点: ·GNX200B拥有BG贴膜研磨**技术。 ·一台设备同时实现BG贴膜平坦化及晶圆的减薄化 ·*修砂可持续进行高效平坦化加工。 ·耗材损耗小,成本低廉。 ·研磨废料精细减轻废水处理负担。 ·提供晶圆研磨与晶圆贴膜自动化解决方案。 了解更多:http:///Wafer_
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