Wafer Bonder晶圆键合支撑晶圆进行自动对准 ——Wafer Bonder应用于晶圆临时性键合/解键合工艺 Wafer Bonder晶圆键合的特点: 4”-8”/8”-12”晶圆适用,支持较薄化晶圆的键合。 可选真空热压/UV/激光等键合方式 晶圆键合智能测绘料篮内晶圆,兼容晶圆料篮、晶圆盒装卸料。 Wafer Bonder支撑晶圆、产品晶圆进行自动对准 晶圆键合可自动完成晶圆键合(Wafer Bonder)工艺。 可选配晶圆键合后的在线检测功能 工控机+Windows系统 SECS/GEM 或简易联网能力 晶圆键合Wafer Bonder规格: 贴片机 Wafer Bonder系列 键合晶圆尺寸 4”-8”/8”-12” 支持体基板 玻璃 键合装置:真空热压/UV/激光 定制 粘贴装置 搭载 晶圆盒形式 兼容晶圆料篮、晶圆盒装卸料 其他 SECS/GEM 或简易联网能力 晶圆键合与解键合/wafer_bonding_debonding/ Wafer Bonder晶圆键合相关产品: 衡鹏供应 **薄晶圆支持系统/**薄晶圆临时键合/wafer debonding/wafer debonder
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PCU-203、PCU-205_马康粘度计有现货 *已停产,代替粘度计PCU-285 PCU-203_马康粘度计概要: PCU-203是一种液体粘度的物理分析仪器,采用共轴双重圆筒型的螺旋泵式传感器,特别适合用于测量高粘度的电子材料,PCU-203测量采用JIS标准。 PCU-205现货粘度计概要: PCU-205粘度计采用了螺旋泵式传感器的共轴双重圆筒型回转粘度计,是一种液体粘度的物理分析仪器,
半自动晶圆减薄前贴膜机STK-6020可自动拉膜和贴膜 半自动晶圆减薄前贴膜机STK-6020规格: 晶圆尺寸:8”& 12”晶圆; 常规产品厚度:200~750 微米; Bump 产品厚度:晶圆 200~400 微米; 凸块 50~200 微米; 晶圆翘曲:≤5mm; 晶圆种类:硅, 砷化镓或其它; 单平边,V 型缺口; 胶膜种类:蓝膜或者 UV 膜; 宽度:240~340 毫米; 长度:100
沾锡天平-5200TN可对PCB的可焊性进行测试与评价 沾锡天平5200TN可焊性测试仪特点: ·5200TN可焊性测试仪(沾锡天平)适用于Wetting Balance与Dip and Look的测试与评价 ·5200TN可针对助焊剂、焊锡等焊接材料以及各种电子元器件、PCB的可焊性进行测试与评价 ·近年来被广泛应用于无铅焊料(Lead-free Soldering)的开发研究及生产工艺技术与品
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