rohs检测仪分析原理是什么

时间：2022-05-12

ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线
波长:
nλ=2dsinaθ (n=1, 2，3..
式中，入为分析谱线波长; d为晶体的晶格间距;为衍射角; n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量; Q为探测器产生的相应电荷量; k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用-定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

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词条
词条说明
X荧光光谱镀层测厚仪
X荧光光谱镀层测厚仪既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。X荧光光谱镀层测厚仪配置01 独立的X/Y/Z轴控制系统02 微焦斑X光管 03 可变高压电源04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护05 Fast-SDD探测器06 双激光定位装置07 标配可自动切换的准直
X射线荧光光谱仪的仪器类别及特点
X射线荧光光谱仪一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X射线荧光光谱仪：仪器仪表、成份分析仪器、荧光光度计。指标信息1、发射源是Rh靶X光管，较大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW。2、仪器在真空条件下工作，真空度<13pasca
什么是ROHS检测仪
RoHs是《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文缩写。该标准将于2006年7月 1日开始正式实施，主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准，使之更加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于
rohs检测仪分析原理是什么
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律