针对技术专业的测试工作人员有关CP测试和FT的测试肯定是十分的了解了,但许多非测试技术专业的从业者对这两个定义实际上掌握并不象那般刻骨铭心。因此文中将针对这些必须触碰测试但并不是测试工作人员的人开展有关CP和FT的测试的解读。
依照惯例,较先必须再解释一下什么叫CP测试和FT测试。CP是(ChipProbe)的简称,指的是集成芯片在wafer的环节,就根据探针卡扎到集成芯片引脚上对集成芯片开展特性及作用测试,有时这道工艺过程也称之为WS(WaferSort);而FT是FinalTest的简称。
因为测试夹具上的差别,CP和FT的不同之处并不仅**于所在的工艺流程环节不一样,二者在高效率和作用遮盖上面拥有显著的差别,这种信息内容是每一个芯片从业者必须基础掌握的。
词条
词条说明
芯片测试发展前途通常有下列几种发展方向:这种挑选是走检测的技术路线,成才为高级软件测试,这时候他可以单独检测许多手机软件,再往上能够变成检测架构设计师。从硬件测试技术工程师发展趋势到检测主管必须长时间工作经历的累积和扎实的专业技术人员背景图。第二类挑选是向管理方法方位发展趋势,从软件测试到小组长,再到检测主管,以致到更高的岗位。第三类挑选是能够换岗位,做项目风险管理或做开发者能够,许多检测工具研发
在进行晶圆测试时,需要将里面不合格的芯片及时挑选出来,这样才可以确保产品的质量。所以在进行测试的时候,要对芯片进行电性测试,这样才可以确保芯片在进行密封之前是符合标准的,在进行测试的时候,提高半导体的良率是很重要的,工作人员在进行相关操作时不能忽视这个问题。现在制作生产的很多晶圆性质都不是很稳定,所以在使用期间误判率也很高,这也是在进行晶圆测试时经常会遇到的问题,很多厂家在进行晶圆生产和测试时都会
晶圆的应用范围在不断地扩大,与此同时晶圆测试也有着严格的要求,那么,晶圆测试有哪几种方式?下面将关于晶圆来讲解测试的几种方式。通常情况下,在实施晶圆测试之前,需要对产品展开极性检测。在封装以前,产品必须是及格商品。提高工艺合格率的关键方式之一就是圆晶检测,确保出厂的产品质量。现在的检测器不平稳,对于产品的错判率高。商家将不精确的数据测试公布,会对于商家造成信誉度和财产损失。检测可靠性是需要提高,以
需先掌握IC生产制造的步骤,全部IC全是先从圆晶片刚开始生产加工的,当圆晶片进行生产制造工艺流程以后,通常都必须开展检测,随后能够封装,不然将会成片圆片全是技术参数不过关,假如立即封装就会导致损害。针对圆片的检测全是选用电极开展检测的,应用材料制做的电极具备必须的延展性,切导电率优良,能够立即扎在圆片的pad上,随后检测设备根据电极对集成ic释放电子信号,从而能够开展技术参数的检测,以辨别圆片上每
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