DataRay光束轮廓仪Beam'R2

时间：2022-06-01

作者：天津瑞利光电科技有限公司

美国DataRay光束轮廓仪Beam'R2

天津瑞利光电科技有限公司经销DataRay光束轮廓仪。

相关产品介绍：

Beam'R2 – XY扫描狭缝光束轮廓仪

特征：

-190至1150 nm，硅探测器

-650至1800 nm，InGaAs检测器

-1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）检测器

-光束直径为5 µm至4 mm，在刀刃模式下为2 µm

-端口供电的USB 2.0; 3 m柔性电缆；没有电源砖

-0.1 µm采样和分辨率

-线性和对数X-Y轮廓，质心

-轮廓缩放和狭缝宽度补偿

-经济准确

-M²选项–光束传播分析，发散，聚焦

应用领域：

-激光印刷和打标

-医用激光

-二极管激光系统

规格：

-波长：硅探测器：190至1150 nm

InGaAs检测器：650至1800 nm

Si + InGaAs检测器：190至1800 nm

Si + InGaAs（扩展）探测器：190至2300或2500 nm

-扫描光束直径：Si检测器：刀刃模式下5 µm至4 mm，至2 µm

InGaAs检测器：刀刃模式下10 µm至3 mm，至2 µm

InGaAs（扩展）检测器：刀刃模式下10 µm至2 mm，至2 µm

-束腰直径测量：*二矩（4s）直径符合ISO 11146；合身的高斯和TopHat

1 /e²（13.5％）宽度

用户可选的峰值百分比

刀刃模式，用于非常小的光束

-计量来源：CW；脉冲激光器，Φµm≥[500 /（PRR以kHz为单位）]

-分辨率精度：0.1 µm或扫描范围的0.05％

±<2％±= 0.5微米

-max功率和辐照度：总计1 W＆0.5 mW / µm²

-增益范围：1‚000：1切换； 4‚096：1 ADC范围

-显示的图形：X-Y位置和轮廓，缩放x1到x16

-更新速率：〜5 Hz

-通过/失败显示：屏幕上可以选择通过/失败的颜色。质量保证和生产的理想选择。

-平均：用户可选的运行平均值（1至8个样本）

-统计：min值，max值，平均值，标准偏差

长时间记录数据

-XY轮廓和质心：Beam Wander显示和记录

-minPC要求：Windows，2 GB RAM，USB 2.0 / 3.0端口

品牌介绍：

DataRay成立于1988年，我们的使命是推动激光束分析技术的发展，开发标准和定制的激光束表征，多年来通过不断的研究创新，积累了丰富的设计开发经验，可以提供**出客户期望的解决方案，满足客户需求。产品广泛应用于工业激光分析、散度测量、指向测量、焦点测量、大光束轮廓分析等领域。

天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天*厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

（价格仅供参考商品为进口商品，受汇率关税运费等不确定因素，不支持网上订货，订货前请电话确认价格）

词条
词条说明
美国TERASENSE太赫兹成像相机
天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国TERASENSE太赫兹成像相机TERA系列产品型号：Tera-256关键字：TERASENSE太赫兹成像相机TERA系列关键字描述：每个检测器单元的室温响应率高达50 kV / W，具有读出电路，在10 GHz到1 THz的频率范围内的等效噪声功率为1 nW /√Hz。产品介绍：使用常规的光刻技术，在标准半导体周期中以GaAs高迁移率异质结构制造探测器。成像传
SCIENTIFICA相机--SciCam Pro
天津瑞利光电科技有限公司优势经销英国SCIENTIFICA相机SciCam Pro产品型号：SciCam Pro关键字：SCIENTIFICA相机SciCam Pro关键字描述：产品介绍：为了检测样品发出的通常很低的荧光水平，用于荧光显微镜的相机需要具有高灵敏度和低噪声，以使其能够以更小的噪声尽可能多的捕获样品发出的光子。单色相机通常更适合荧光成像。它们没有彩色滤光片阵列，允许更多的光子到达光敏传
意大利FAE增量编码器-FOI-58
意大利FAE增量编码器FOI-58天津瑞利光电科技有限公司经销FAE增量编码器。产品详情：增量编码器FOI-58描述：利用磁传感器进行角度位置检测和信号处理，包括产生脉冲输出。坚固的钢制外壳，带防腐蚀涂层和耐海水铝合金法兰（AlMgSi1）。特征：-类型：增量-格式：ø58mm-法兰和轴：盲孔轴，12 mm锁紧环（10,8,6 mm带减压套），安装法兰，轴10
日本ALNAIR硅晶圆厚度传感器-SIT-200
天津瑞利光电科技有限公司优势经销日本ALNAIR硅晶圆厚度传感器• 品牌名称：ALNAIR• 规格型号：SIT-200 产品介绍用于硅晶片的全光学非接触式厚度传感器高动态范围，能够测量混乱的表面能够在湿蚀刻过程中进行原位测量SIT-200使用高速扫频可调激光器（而不是宽带光源）来探测被测晶片。这样就可以对每个波长进行更高功率的测量，从而实现高动态范围。即使在未抛光的晶片上，例如在湿蚀刻期