根据 AMS 2644的规范要求,每批磁通的渗透剂都经过了较佳可去除性测试,可去除性测试也是列入QPL AMS 2644认证的必要性能测试之一。
可去除性是衡量渗透剂在检测过程中从零件表面去除的难易程度,从而产生较少的残留荧光背景。在施用渗透剂并渗透后,必须从零件表面去除渗透剂,以确保在零件表面上保留相对较低的荧光背景。较低的背景可产生较高的对比度的缺陷指示,从而产生更高质量的检测,降低操作员的疲劳。
如何确定可去除性?
可去除性是基于ASTM E1417标准对渗透剂的在役测试,以将使用中的产品与新鲜的新材料进行比较,并确保使用中的材料仍然符合预期。磁通对每个批次的渗透剂都进行测试,以确保运往客户的产品具有较佳的可去除性。测试可去除性的过程包括施加渗透剂,在允许*的时间内渗透,然后根据相关渗透剂方法的要求冲洗或去除。
将去除后产生的背景荧光与现有标准或规范进行比较,以确定可去除性水平:较低的背景荧光表示更好的可去除性,而较高的背景荧光表示较差的可去除性。这两个因素,可去除性和背景,是相辅相成的,并且是反向相关的。
请注意,在可去除性方面,并非所有工件都是平等的,即使使用相同的渗透剂也是如此。较粗糙的铸件通常会使渗透剂更难去除,并导致更高的背景,特别是对于更高灵敏度的渗透剂。相反,当所有其他变量保持不变时,光滑且高完成度的零件通常会显示出更好的可去除性。
如何进行渗透剂可去除性测试?
清洁并干燥测试工件。
将渗透剂涂抹在测试工件上。
根据渗透剂测试级别3(III)编写的部分特定技术表中的*时间进行渗透剂渗透。
使用测试工件标准中的冲洗时间和水压冲洗掉工件上的渗透剂(如果不是方法A渗透剂,则根据该渗透剂方法的标准将其除去)。
干燥测试工件。
施加显像剂。
在UV-A光下检查并评估存在的背景荧光水平。
词条
词条说明
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