如何正确操作使用膜厚仪
如何正确操作使用膜厚仪 膜厚仪又名膜厚仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。那么,如何正确操作使用膜厚仪?为大家详细介绍:测定准备(1)确保电池正负极方向正确无误后设定。(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。测定方法(1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J。(2)调整:确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。(3)测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用[一点接触定压式]。抓住与测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下。下述的测定,每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定。
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哪些因素会影响膜厚仪的性能膜厚仪是一种常见的机械设备涂层测试工具。采用磁性测厚法,可方便优质地测量铁磁材料上的非磁性涂层厚度,因此膜厚仪受到许多制造商的青睐。在日常使用中,精度要求较高,但仍会有偏差,哪些方面会影响膜厚仪的性能?一、基体金属被磁化由于膜厚仪磁性测量受基体金属磁性变化的危害(在实际应用中,高碳钢磁性变化可称为轻微)。为了防止热处理工艺、冷拉等因素,应选择与电镀锡金属具有相同特性的铁硅
icp-aes分析仪(atomic emission spectrometer)。主要用于无机元素的定性及定量分析,ICP-AES 电感耦合原子发射光谱仪作为一种大型精密的无机分析仪器。广泛地应用于稀土分析、贵金属分析、合金材料、电子产品、医药卫生、冶金、地质、石油、化工、商检以及环保等部门。仪器特点与其它光学分析仪器方法相比 ICP-AES 方法具有以下几个明显的优势:a 分析速度快ICP-AE
涂镀层测厚仪测量原理磁感应测量原理采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本
土壤重金属剖析仪器有什么-【云唐】Soil heavy metal rapid detector现阶段很多应用无机化学化肥等导致蔬菜水果和鱼种身体内的重金属成分比较严重**标准的状况,持续在人体内累积,造成 顾客重金属慢性中毒状况产生,中国已产生几起重金属团体食物中毒事件,已造成**部门的十分重视和各界人士的普遍关心,可是当今重金属测定法测量速度比较慢、流程 繁杂且仪器价格昂贵。根据这类局势,大家开
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