X荧光光谱的基体效应的种类与分析

时间：2022-09-29

X荧光光谱的基体效应的种类与分析

在X射线荧光分析中，随着相对高精度和稳定设备的发生和发展，基材效应已成为原素定量分析和测量中分析偏差的来源。基材效应是指样品较基本的化学成分和物理**化学条件的变化，以及对射线强度分析的影响。样品较基本的化学成分一般是指包括分析元素在内的主要元素；样品物理**化学条件一般包括固体粉末粒度、样品表面光滑度或表面粗糙度、样品均匀性及其原素在样品中的**化学状态。因此，基材效应可分为两种：
1)吸收和激起(提高)效应
①原级入射线进入样品时的吸收效应；
②荧光谱线被样品吸收或分析原素受样品中其他元素的影响；
③三级激起效应。
随着样品基材化学成分的不同，上述吸收和激起效应发生变化。
2)其他物理效应
①样品的均匀性、粒度和表面效应；
②**化学态的变化对分析线的强度有害。
以上两类物理**化学效应，尤其是**类，往往会对分析线的强度进行精确测量产生重要偏差。
二、吸收和激起效应
中短波侧给出的元素一定的吸收限，质量透射系数pm快速伴随光波长λ改进和增加，依据式的增加μm=Kλm和勒鲁的研究成果，针对多个关键家谱图，0.18-10A的波长，λ幂值m变为2.1~2.8中间。因此，短波侧光谱线越接近吸收限，吸收或损耗就越大。而且，对于一个地图，因为km随着变化的不断变化，样品中的吸收和激发效应也随着光谱的光波长而不断变化，直到光波长增加到一定的吸收限制，质量传输系数pm突然发生了变化。
在吸收和激起效应中，较重要的是原级入射线进入样品时的吸收效应和荧光谱线出射时样品的吸收效应或其他元素的继发效应。对于化学成分不同类型的样品，当分析元素含量相同时，吸收和激起效应反映在对同一分析线强度的危害上，关键原级入射线与分析线协同质量透射系数的差异。
三、粒度效应
在荧光强度的推导公式中，假设样品均匀光滑。但事实上，只有液体样品或**属或一些铝合金样品才能满足这一条件。对于一般固体样品，特别是粉末样品，往往存在样品不均匀、粒度效应和表面效应。
对称样品，对于固态粉末样品，是指粉末粒度和化学成分完全相同的样品。研究表明，在已知的卡紧份额下，粒度越低，荧光谱强度越大。对于给定的粒度，压力越大，即卡紧份额越低，荧光谱抗压强度越高。不对称样品不同。在不均匀样品中，有许多不同粒度或化学成分的颗粒，影响荧光谱抗压强度的因素将更加复杂。
四、表面效应
样品表面状况与荧光光谱强度之间的关系不容忽视。当样品由耐磨材料、锯片或锋形材料制成一定尺寸的小物件时，表面需要适度抛光或抛光。
荧光光谱的抗压强度不仅与样品的表面结构和纹沟的特性有关，还受到样品部位、纹沟和X射线进出方向的危害。对于后一种，样品可以在测量过程中同时旋转或减少去除。如果不能旋转，纹沟的方向应与出射线和出射线平行。
上述就是X荧光光谱测试仪厂家为您介绍的内容，对此还有什么不了解的，欢迎前来咨询我们的网站，我们会有专业的人员为您讲解。

18550531168

词条
词条说明
ROHS元素分析仪的工作原理
ROHS元素分析仪是用于测量分析电子电机产品中如Cd、Pb、Hg等有害物质含量的仪器，采用IntelR PXA270处理器，通过扳机或开始/停止键操作，具有仪器轻便、操作简单、适用于任何场所等优点。卤素卤元素分析分析检测仪,是目前市场上提供体积小、分析检测速度快、功能多、精度高的对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认的便携式多用途掌上型X射线荧光分析检测仪，该分析检测仪可适用于任何场所，从而确保材料
手提光谱分析仪多少钱
被授予 “国家火炬计划**企业”，“江苏省**企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家新产品”和“江苏省**产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。合金分析仪工作条件：工作温度：15-30℃相对湿度：≤70%电
怎么选择ROHS检测光谱仪
对于rohs光谱仪的选择，主要考虑两个因素吧：一、就是你的预算，假如你公司预算不是很充足，排除国外品牌，毕竟国外品牌会贵很多。二、自身的实际测试需求，也就是你的测试项目是怎么样的，测试难度有多大以及测试复杂程度等。测试需求不太复杂，那就选择中端配置的就可以了，还节省资金预算。是生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。有害元素光谱仪仪器在深圳创业板块上市,j 分析仪
X荧光光谱仪的优点有哪些
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。