新品发布-ELIONIX纳米压痕仪

时间：2023-07-05

作者：北京欧屹科技有限公司

可以获得薄膜、极性表面和微小区域的硬度和弹性模量等机械性能。

由于分析载荷和位移曲线以确定特性，因此*观察压痕。

符合ISO 14577-1/JIS Z 2255标准

外部及内部温度控制

防震机构

压头校正、温度校正日常检测提醒

数据再现性・该机制可抑制振动和温度变化等外部干扰的影响，提高

数据的再现性・即使在连续测量中也能实现稳定的

高负荷单元和低负载单元的更换

方便・通过更换设备进行设备校准，减少设备停机时间

▶ 高负载单元

・可测试高达 5 μN ~ 2000mN。

・可对从金属材料到聚合物材料的各种材料进行硬度测试。

▶ 低负载单元

- 兼容 0.5 μN ~ 10 mN。

・对于软材料（弹性模量：几GPa以下）

和压痕深度为100nm或更小的测量，可以获得出色的重复性和稳定性，从而可以对10nm或更小的**薄膜进行纳米压痕测试。

・适用于评估

UV固化树脂和薄膜等功能性树脂、硅橡胶等其他弹性材料以及DLC薄膜等**薄硬膜的机械特性。

词条
词条说明
新品发布-VR镜头**应力双折射测量设备
PHL公司较新推出一款**于VR镜片的的评估设备WPA-VR ，适应于研发和在线式检测。1，斯托克斯参数S3的面分布测量。Pancake镜片薄型化的技术，在于镜头内含有控制整体偏光的偏光片与QWP(1/4玻片)结构。藉由表示综合偏光控制性能的斯托克斯参数S3的整面分布信息可以评估模材贴合时的皱褶、气泡等缺陷状况2， RGB三原色测量，利用三原色量测，可了解各色状态下QWP的相位差及S;差异状况三
新品发布-ELIONIX纳米压痕仪
可以获得薄膜、极性表面和微小区域的硬度和弹性模量等机械性能。由于分析载荷和位移曲线以确定特性，因此*观察压痕。符合ISO 14577-1/JIS Z 2255标准外部及内部温度控制防震机构压头校正、温度校正日常检测提醒数据再现性・该机制可抑制振动和温度变化等外部干扰的影响，提高数据的再现性・即使在连续测量中也能实现稳定的高负荷单元和低负载单元的更换方便・通过更换设备进行设备校准
PHL应力双折射仪PA-300-MT
PA-300-MT 简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片，*有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的**选择。 PA-300-MT主要特点：
PHL应力双折射测量仪WPA-200-MT
WPA-200-XL简介： WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶体制造技术开发的产品，*特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为**的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，较适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。 WPA-200