ROHS检测仪产品说明,江苏仪器股份有限公司专业提供检测ROHS测试仪EDX1800B的技术参数:测量元素范围:从钠(Na)到铀(U),元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同),同时分析元素:一次性可测几十种元素。
测量时间:30秒-200秒;探测器能量分辨率为:145±5eV。管压:5KV-50KV;管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体。输入电压:AC 110V/220V。环境温度:15℃-30℃;环境湿度:35%-70%。样品腔体积:320mm×100mm;外形尺寸:660mm×510mm×350mm。重量:65Kg。
高效**薄窗X光管,指标达到国际先进水平。较新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好。SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比。低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围。自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性。高信噪比的电子线路单元。针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐。解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。内置高清晰摄像头。液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然。
仪器公司是**专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光环保测试仪EDX4500H,融汇合金分析技术,配备智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。同时,也大大提高了ROHS指令中有害物质的分析精度和检测限,可以实现无有害物质指令的测试要求。
EDX1800B还是一款可以用于镀层行业的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点。是一款功能强大的镀层测厚仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。完全满足金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定要求。
售后服务:仪器在全国设有二十几个服务网点,为客户提供*的质保服务。保修期内同提高终身维修,软件免费升级,维修相关费用全免。保修期结束后,交通费、住宿费实报实销,服务费800元 / 天。技术服务的响应期限短,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72时内派人上门维修和排除故障。
词条
词条说明
作为国内*的Rohs检测仪制造厂商,仪器秉承精益求精的研发理念,利用现代半导体技术和计算机技术发展起来的新一代XRF测试仪EDX1800B,能够**的解决ROHS环保指令涉及的有害物质的快速测定。 Rohs检测仪技术参数 分析检出限可达1ppm;分析含量一般为1ppm到99.99%;任意多个可选择的分析和识别模型;相互独立的基体效应校正模型;多变量非线性回归程序;温度适应范围为15℃至30℃
X射线测厚仪是检测电镀层厚度的仪器,通常x射线测厚仪被广泛应用于电镀厂,五金厂,汽车零部件,PCB加工,电子连接件等行业。X射线测厚仪又叫膜厚仪,测膜仪,镀层测试仪,x射线镀层测厚仪,金属测厚仪,xrf测厚仪,x-ray测厚仪,x荧光光谱镀层测厚仪等。那么如何校正? 使用标准片进行校正是x射线测厚仪的正确方法,标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校
RoHS检测仪器是专门针对欧盟环保ROHS*中的六大有害物质快速测试仪,利用X射线照射样品激发产生的荧光信号,通过半导体探测器进行收集和分析,再结合现代计算机软件进行运算和处理就能得出待测样品的元素含量。对于ROHS检测仪器来说,较重要的就是设备的稳定性和测试精度。仪器结合新一点X射线光管和半导体探测器计算,采用少见信噪比增强技术,使得元素谱图异常清晰。EDX1800B是仪器新一代RO
利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择。测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、**薄薄膜的型号,能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号,适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号。 兼顾易
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