波长色散x荧光光谱仪

时间：2024-11-21

波长色散X荧光光谱仪（WD-XRF）是一种基于X射线荧光原理进行物质成分分析的高端科学仪器。
它利用原级X射线或其他光子源作为激发源，照射待测物质中的原子，使其内壳层电子被激发并跃迁**能级，随后这些高能级电子回落到低能级时，会释放出具有特定波长的X射线荧光，即次级X射线。
这些特征X射线荧光携带着待测元素的种类及含量信息，通过波长色散型光谱仪的分光系统，可以将不同波长的X射线荧光分离，再由探测器系统测量其强度，进而实现元素的定性和定量分析。
波长色散X荧光光谱仪由多个关键部件组成，包括X射线管激发源、分光系统、探测器系统、真空系统和气流系统等。
其中，分光系统通常采用晶体分光技术，根据分析晶体的聚焦几何条件不同，分为非聚焦反射平晶式、半聚焦反射弯晶式、全聚焦反射弯晶式等多种类型。
这些不同类型的分光系统能够满足不同元素和不同分析需求的高精度测量。
波长色散X荧光光谱仪在分析速度、准确性、适用范围等方面具有显著优势。
它能够在短时间内完成样品中多种元素的测定，通常2至5分钟即可测完样品中的全部待测元素。
同时，该仪器不受样品化学结合状态和物质形态的限制，可用于固体、粉末、液体等多种形态的样品分析，分析范围广泛，涵盖了从Be到U的所有化学元素。
此外，波长色散X荧光光谱仪还具有非破坏性分析的特点，在测定过程中不会引起样品化学状态的改变，也不会出现样品飞散现象，因此同一样品可以反复多次测量，结果重现性好。
这种仪器在地球科学、化学工程、材料科学、冶金工程技术等多个领域得到了广泛应用，为科研工作者提供了强有力的分析手段。

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