风华高压陶瓷电容器的可靠性试验主要测试哪些项目？

时间：2017-06-08

作者：深圳市新晨阳电子有限公司

高压陶瓷电容器的可靠性测试，也叫老化测试，寿命测试，包括很多方面的测试内容：

1，耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。

2，串联电阻测试，绝缘电阻测试；

3，拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度；

4，正负温变化率测试，即-40度到+60度状况下，电容的变化率；

5，老化测试，电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化；

6，寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的。

7，局放测试，即局部放电测试。

当然，在这些测试过程中，我们可以得出各种参数，如额定电压，击穿电压，过电流，工作频率，容量变化率，绝缘电阻，等。每一种电容在研发与生产配料再次生产时，都要重新进行测试，才能准确判断产品是否合格。

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安规电容较常见的现象
有个较典型的失效机理是低压失效。从安规的角度来讲，都喜爱把余量留得大一点，这样即便规划上有点缺陷，也不会器材毛病，窃以为！恰恰相反，殊不知，物较必反，哲学规则在此得到充分体现。低压失效的典型症状：1实践使用电压远低于电容的额外耐压值，一般在额外值的10%以下；2湿热试验或湿润预处理后电容会失效；3从湿热试验和湿润预处理后，进行高热试验或电路板烘烤，电容会康复正常；4或许将失效电容从电路板上拆下
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一体成型电感和普通电感在制造工艺与性能各方面有着很大的区别具体的是：在制造工艺上一体成型电感制作工艺有DIP，SMD两种，且都是压铸成型，一体成型电感包括座体和绕组本体，座体需将绕组本体埋入金属磁性粉末内部压铸而成，ＳＭＤ引脚为绕组本体的引出脚直接成形于座体表面的。普通电感一般都是磁芯和漆包线圈绕制而成。在性能上面一体成型电感具有结构坚实牢固，产品精准厚度、持久防锈。高Q值，小型化小体积、
压敏电阻一般并联使用
压敏电阻一般并联在电路中使用，当电阻两端的电压发生急剧变化时，电阻短路将电流保险丝熔断，起到保护作用。压敏电阻在电路中，常用于电源过压保护和稳压。当一个压敏电阻满足不了标称放电电流的要求时，应采用多个压敏电阻并联使用。有时为了降低限制电压，即使标称放电电流满足要求也采用多个压敏电阻并联。要特别注意的是，压敏电阻并联使用时，一定要严格挑选参数一致的进行配对，以保证电流的均匀分配注意事项温
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