牛津仪器新产品镀层测厚仪COMPACT和MAXXI系列发布会圆满召开

时间：2014-06-12作者：深圳市鼎较天电子有限公司浏览：47

 

       2014年5月22日-23日，牛津仪器工业分析部在上海海悦大酒店召开新产品发布会，隆重推出了较新一款**高性价比的镀层测厚仪产品COMPACT和MAXXI系列。

       此款产品是基于X射线荧光技术所开发，是功能性和检测精度兼备的理想工具。随着该款产品的推出，牛津仪器的X射线荧光光谱仪系列产品线得到了进一步丰富，整合后的产品系列完整覆盖从低端到高端的完整市场区间，为广大中国地区的镀层测厚和材料分析企业提供性价比更佳的选择。

      中国地区共有十几家牛津仪器省级少见代理商应邀参加了本次发布会。两天的会议内容十分丰富，涉及了新品介绍、售后服务介绍以及代理商培训等几大部分。牛津仪器镀层测厚仪是基于公司所拥有的32年X荧光仪器研发及制造历史平台所开发，能够完整覆盖应用范围并适应各种大小的样品，具有非常大的竞争力。COMPACT和MAXXI系列镀层测厚仪由德国研发制造，由原厂品质管控，质量保证。并可提供工厂预校准仪器，使用方便，可靠性高。此款产品标配XMaster,μMaster,ElementMaster软件，具有高性价比。应用市场主要有：五金电镀，珠宝行业，电子行业，PCB等。

 

      牛津仪器将继续以支持中国工业发展为己任，为中国广*业企业提供简单、快速、可靠的分析仪器；同时我们遍布全国的服务团队也可以为用户提供一系列的服务套餐，包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术支持等。




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• 牛津仪器新产品镀层测厚仪COMPACT和MAXXI系列发布会圆满召开

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