如何进行元器件筛选？原则是什么？

时间：2022-01-31

作者：广州广电计量检测股份有限公司

电子器件元器件的原有可靠性在于产品的可靠性设计方案，因而，应当在电子器件元器件装上整体或机器设备以前，就需要想方设法尽量清除掉存在的问题的元器件，因此就需要对元器件开展筛选。

那麽，元器件筛选都有哪些计划方案？标准有哪些？普遍的筛选新项目有什么？

1、元器件筛选的重要性

分配检测筛选依次顺序的二种计划方案：

计划方案1：将不造成连坏引起实际效果的失效模式筛选放到前边，将可以与其他失效模式造成连坏引起实际效果的失效模式筛选放到后边。

计划方案2：将可以与其他失效模式造成连坏引起实际效果的失效模式筛选放到前边，将不造成连坏引起实际效果的失效模式筛选放到后边。

假如挑选计划方案1，会发觉将可以与其他失效模式造成连坏引起实际效果的失效模式筛选放到后边，假如发生自身失效模式没有被开启，但其他*的有关失效模式先被开启的状况，由于此类失效模式的检验早已在前面做过去了，因此不可以精确地精准定位和去除这类含有缺点的元器件。

而挑选计划方案2就可以十分合理地防止以上问题的产生，使筛选全过程更为高品质、经济发展和高效率。

2、筛选计划方案的设计原理

界定如下所示

筛选高效率W=去除残品数/具体残品数

筛选耗损率L=好品毁坏数/具体好品数

筛选不合格率Q=剔降残品数/开展筛选的产品数量

理想化的可靠性筛选应以W=1，L=0，那样才能够做到可靠性筛选的目地。

Q值尺寸表明了这种产品在生产过程中存在的问题的尺寸。

Q值越大，表明这批产品筛选前的可靠性越差，亦即生产过程中所存在的不足越大，产品的良品率越低。

筛选项目分析越多，应力标准越严苛，劣品取代得越完全，其筛选高效率就越高，筛选出的元器件可靠性水准也越贴近于产品的原有可靠性水准。

可是这种做要投入更多的花费和更长的周期时间，最后减少了筛选高效率。

因而，筛选标准挑选过过高导致很多不必要的消耗，筛选标准过低则劣品取代不完全，产品的应用可靠性无法得到确保。

不难看出，筛选抗压强度不足或筛选标准过严都对成批产品的可靠性不好。

为了更好地合理而恰当地开展可靠性筛选，务必有效地明确筛选新项目和筛选应力。因此，务必掌握产品的损坏原理。

产品的种类不一样，生产制造企业不一样及原料及生产流程不与此同时，其无效原理就不一定同样，因此可靠性筛选的环境也应各有不同。

因而，务必对于各种各样实际产品开展大批量的可靠性实验和筛选摸排实验，进而把握产品无效原理与筛选新项目间的关联。

元器件筛选计划方案的制定

要把握下列标准：

1）筛选要能高效地去除初期无效的产品，但不可提升一切正常产品的失效率。

2）为提升筛选高效率，可开展强应力筛选，但不可使产品造成新的失效模式。

3）有效挑选能曝露无效的较好应力次序。

4）对把握全部产品的失效模式。

5）为制定有效高效的筛选计划方案，务必掌握各相关元器件的特点、原材料、封装形式及生产技术。

除此之外，在遵循以上五条标准的与此同时，应融合生产周期，有效制订筛选时间。

3、几类较常用的筛选新项目

1）高温存储

电子器件元器件的无效大部分是因为其身体内和表层的各种各样物理和化学转变所造成，他们与环境温度有紧密的关联。

温度上升之后，化学变化速率大大的加速，无效全过程也获得加快，促使有缺陷的元器件能立即曝露，给予去除。

高温筛选在半导体元器件上被普遍选用，它能高效地去除具备表层污染、引线键合欠佳和反应层缺点等无效原理的元器件。

通常元器件必须在较大结温下存储24~168钟头。

高温筛选简便易行，花费并不大，在很多元器件上面可以实施。根据高温存储后，还能够使元器件的主要参数特性趋于稳定，降低应用中的主要参数飘移。

各种各样元器件的热应力和筛选时间要适度挑选，以防造成新的损坏原理。

2）输出功率电老炼

筛选时，在热电厂应力的相同的作用下，能有效地曝露元器件身体内和表层的多种多样潜在性缺点，它是可靠性筛选的一个关键新项目。

各种各样电子器件元器件通常在最大功率标准下老炼数钟头至168钟头。有一些产品，如电子器件，不可以随意更改标准，但可以选用高温工作方法来提升工作中结温，做到高应力情况。

各种各样元器件的电应力要适度挑选，可以相当于或稍**额定值标准，但不可以让人新的损坏原理。

输出功率老炼必须专业的实验设备，其花费较高，故筛选时间不能太长。民用型产品通常为数钟头，**用高靠谱产品可挑选100或168钟头，航宇级元器件可挑选240钟头乃至更长的周期时间。

3）温度循环系统

电子器件产品在应用全过程中会碰到不一样的工作温度标准，在热涨冷缩的应力功效下，热配对特性差的元器件就非常*无效。

温度循环系统筛选运用了偏激高温和偏激**低温间的热涨冷缩应力，能有效的去除存有热特性缺点的产品。

元器件常见的筛选标准是-55℃至 125℃，循环系统5-10次。

4）离心式瞬时速度

离心式瞬时速度实验又被称为匀速运动应力瞬时速度实验。

此项筛选通常在半导体元器件上开展，把高速运转造成的向心力功效于元器件上，可以去除引线键合抗压强度过弱、内导线配对欠佳和装架欠佳的元器件，通常采用离心式瞬时速度20000g并且不断实验一分钟。

5）监管震动和冲击性

在对产品开展震动或应力测试的一起开展电气性能的检测，常被称作监管震动或监管应力测试。

此项实验能仿真模拟产品应用全过程中的震动、冲击性自然环境，能高效地去除瞬间短、短路等机械系统欠佳的元器件及其发觉整体中的虚焊等常见故障。在高靠谱汽车继电器、连接器及其**用电子产品中，监管震动和冲击性是一项至关重要的筛选新项目。

典型性震动标准：工作频率20-2000Hz，瞬时速度2-20g，扫描仪1~2周期时间，在共震点周边要多滞留一段时间。典型性的冲击性筛选标准是1500-3000g，冲击性3~5次，此项实验仅适用元器件。

监管震动和冲击性必须专业的实验设备，花费价格昂贵，在民用型电子器件产品中一般不选用。

除以上筛选新项目外，常见的也有大小测漏、镜检查、线形辨别筛选、高精密筛选等。

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词条
词条说明
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