温度冲击试验

时间：2021-09-13

作者：深圳市一通检测技术有限公司

[项目介绍]

本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。

[业务范围]

1.计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等

2.电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等。

3.电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备；

4.其他：包装箱、运输设备等。

[测试参考标准]

IEC 60068-2-14，GB/T 2423.22,GJB 150.5等

[设备参数]

设备型号：CJ602S3 Ⅰ

试验温度范围：-75℃～200℃

高温设定范围：+60℃～+200℃

低温设定范围：0℃～-75℃

温变速率：≤5Min

内箱尺寸：670×650×460mm

[一通检测优势]

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词条
词条说明
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