失效分析流程介绍

时间：2021-10-08作者：青岛英特质量工程技术有限公司浏览：497

失效分析流程

各种材料失效分析方法

1 PCB/PCBA失效分析

PCB作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽已经成为电子信息产品的较为重要而关键的部分，其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。

失效模式

爆板、分层、短路、起泡，焊接不良，腐蚀迁移等。

常用手段

无损：

外观检查，X射线透视，三维CT，C-SAM，红外热成像

表面元素分析：

扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）

显微红外分析（FTIR）

俄歇电子能谱分析（AES）

X射线光电子能谱分析（XPS）

二次离子质谱分析（TOF-SIMS）

热分析：

差示扫描量热法（DSC）

热机械分析（TMA）

热重分析（TGA）

动态热机械分析（DMA）

导热系数（稳态热流法、激光散射法）

电性能测试：

击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移

破坏性能测试：

染色及渗透

2 电子元器件失效分析

电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。

失效模式

开路，短路，漏电，功能失效，电参数漂移，非稳定失效等

常用手段

电测：连接性测试 电参数测试 功能测试

无损：

开封技术（机械开封、化学开封、激光开封）

去钝化层技术（化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层）

微区分析技术（FIB、CP）

制样技术：

开封技术（机械开封、化学开封、激光开封）

去钝化层技术（化学腐蚀去钝化层、等离子腐蚀去钝化层、机械研磨去钝化层）

微区分析技术（FIB、CP）

显微形貌分析：

光学显微分析技术

扫描电子显微镜二次电子像技术

表面元素分析：

扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）

俄歇电子能谱分析（AES）

X射线光电子能谱分析（XPS）

二次离子质谱分析（SIMS）

无损分析技术：

X射线透视技术

三维透视技术

反射式扫描声学显微技术（C-SAM）

3 金属材料失效分析

随着社会的进步和科技的发展，金属制品在工业、农业、科技以及人们的生活各个领域的运用越来越广泛，因此金属材料的质量应更加值得关注。

船用柴油机曲轴齿轮

失效模式

设计不当，材料缺陷，铸造缺陷，焊接缺陷，热处理缺陷

常用手段

金属材料微观组织分析：

金相分析

X射线相结构分析

表面残余应力分析

金属材料晶粒度

成分分析：直读光谱仪、X射线光电子能谱仪（XPS）、俄歇电子能谱仪（AES）等

物相分析：X射线衍射仪（XRD）

残余应力分析：x光应力测定仪

机械性能分析：**试验机、冲击试验机、硬度试验机等

拉伸试验材料断裂面扫描电镜图像

4 高分子材料失效分析

高分子材料技术总的发展趋势是高性能化、高功能化、复合化、智能化和绿色化。因为技术的全新要求和产品的高要求化，而需要通过失效分析手段查找其失效的根本原因及机理，来提高产品质量、工艺改进及责任仲裁等方面。

失效模式

断裂，开裂，分层，腐蚀，起泡，涂层脱落，变色，磨损失效

常用手段

成分分析：

傅里叶红外光谱仪（FTIR）

显微共焦拉曼光谱仪（Raman）

扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）

X射线荧光光谱分析（XRF）

气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）

裂解气相色谱-质谱联用（PGC-MS）

核磁共振分析（NMR）

俄歇电子能谱分析（AES）

X射线光电子能谱分析（XPS）

X射线衍射仪（XRD）

飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）

热分析：

差示扫描量热法（DSC）

热机械分析（TMA）

热重分析（TGA）

动态热机械分析（DMA）

导热系数（稳态热流法、激光散射法）

裂解分析：

裂解气相色谱-质谱法

凝胶渗透色谱分析（GPC）

熔融指数测试（MFR）

断口分析：

扫描电子显微镜（SEM），X射线能谱仪（EDS）等

物理性能分析：

硬度计，拉伸试验机， **试验机等

5 复合材料失效分析

复合材料是由两种或两种以上不同性质的材料组合而成。具有比强度高，优良的韧性，良好的环境抗力等优点，因此在实际生产中得以广泛应用。

失效模式

断裂，变色失效，腐蚀，机械性能不足等

常用手段

无损：

射线技术（ X 射线、γ 射线、中子射线等），工业CT,康普顿背散射成像（CST）技术，超声技术（穿透法、脉冲反射法、串列法），红外热波技术，声发射技术，涡流技术，微波技术，激光全息检验法等。

成分分析：

X射线荧光光谱分析（XRF）等，参见高分子材料失效分析中成分分析。

热分析：

重分析法（TG）、差示扫描量热法（DSC）、静态热机械分析法(TMA)、动态热机械分析（DMTA）、动态介电分析（DETA）

破坏性实验：

切片分析（金相切片、聚焦离子束（FIB）制样、离子研磨（CP）制样）

6 涂层/镀层失效分析

左IC分层失效 、右涂层样品界面点腐蚀失效

失效模式

分层，开裂，腐蚀，起泡，涂/镀层脱落，变色失效等

常用手段

成分分析：

参见高分子材料失效分析

热分析：

参见高分子材料失效分析

断口分析：

体式显微镜（OM）

扫描电镜分析（SEM）

物理性能：

拉伸强度、弯曲强度等

上述就是为你介绍的有关失效分析流程介绍的内容，对此你还有什么不了解的，欢迎前来咨询我们网站，我们会有专业的人士为你讲解。





青岛英特质量工程技术有限公司专注于实验室CNAS认可,ASME焊接,CMA资质认定,焊接工艺评定,焊接体系认证,失效分析等

• 词条

  词条说明

• 焊接工艺评定的意义是什么

  焊接工艺评定是保证锅炉、压力容器和压力管道焊接质量的一个重要环节。焊接工艺评定是锅炉、压力容器和压力管道焊接之前技术准备工作中一项不可缺少的重要内容，是国家质量技术监督机构进行工程审验中必检的项目，是保证焊接工艺正确和合理的必经途径，是保证焊件的质量，焊接接头的各项性能必须符合产品技术条件和相应的标准要求的重要保证，因此，必须通过相应的实验即焊接工艺评定加以验证焊接工艺正确性和合理性，焊接工艺评定

• 浅谈焊接工艺评定

  焊接工艺评定的首要目标取决于证实某一个焊接方法是不是可以得到符合规定的对接焊缝，以分辨该工序的准确性、可行性分析，而不是电焊焊接实际操作工作人员的手艺水准。焊接工艺评定是确保电焊焊接构造生产制造品质的主要前提条件。文中关键比照的是连接对接焊缝（通称对接接头）物理性能试验方式的差别，包含抽样差别，物理性能内容差别和根据的差别等，以供有关试验工作人员参照。焊接工艺评定的程序流程焊接工艺评定

• 实验室建设

  检验机构CMA资质认定， 校准实验室CNAS认可，医学实验室CNAS认可，计量建标考核。

• 金属材料及零部件失效分析

        失效分析是综合运用各种技术，结合产品设计、生产工艺、工作原理及工作环境，对出现早期失效的产品进行失效根本原因分析并提出改进意见和建议的过程。失效分析的基本方法步骤如下所述：1. 从整体到局部所谓从整体到局部包括两方面的考量。一是从和失效的产品相关联的其他部件到失效产品。要成分了解产品的工作环境及工作原理，任何和失效产品相关联的零部件都可能对失效产生影响