波兰Radwag微量天平

波兰Radwag微量天平品牌介绍：Radwag成立于1984年，起初制造简单的产品及解决方案，1992年，制造了一台配备微处理器的电子天平。不断创新的生产技术使公司蓬勃发展。依靠自己的技术思想，生产的所有产品均基于其自身的结构和技术解决方案。通过向客户提供越来越多的创新产品，成为天平和秤的 制造商之一，产品得到广泛认可，公司将通过不断的研究创新，满足客户需求。 产品范围：波兰Radwag

赛多利斯PM2.5分析天平,MSA2.7S-0CE-DM精

赛多利斯PM2.5**分析天平MSA2.7S-0CE-DM1 运行环境1.1 环境温度：5-40℃1.2 相对湿度： 0-80%RH1.3 适用电源： 220V±10%；50Hz；2 技术规格2.1功能：该设备用于样品称量。2.2 读数精度：0.0001mg2.3 量程：2.1g2.4&nb

MS105半微量天平,半微量天平,天平

MS105半微量天平 无论是简单的日常工作，还是复杂的称量程序，NewClassic MS半微量天平将**的性能和提高生产力进行了**的结合，这一切都来源于快速的稳定时间以及一贯的可靠结果。来自瑞士的高分辨率称量技术(HRT)，保证了整个称量范围内的始终。创新左右手互换开关门(ErgoDoor)使样品的称量尽可能简单和方便。内置日期和时间功能，进行符合GLP/GMP规范的打印输出，确保您的研究的

MS205DU半微量天平,半微量天平,天平

MS205DU 半微量天平 重复性（sd） 0.08 mg 重复性（sd） ，精细量程 0.05 mg 线性误差 0.2 mg 灵敏度温度漂移（ 10-30°C） 2 ppm/ °C 稳定时间 8 s / 4 s 防风罩的有效高度 234 mm 秤盘尺寸 ? 80 mm 天平尺寸（宽 x 深 x 高） 358x247x331 mm 天平净重 6.6 kg 灵敏度温度漂移（ 10-30°C），精细

XS3DU微量天平,微量天平,天平

XS3DU微量天平 梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有**的称量性能，完全满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中较佳的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。 梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。 描述

XP6U**微量天平,**微量天平,天平

特勒-托利多XP6U**微量天平具有**的61,000,000分辩率，同时集成了所有其它XP天平的产品特点，例如SmartScreen彩色触摸屏、可设置的显示界面、智能用户向导、以及*用手接触的SmartSens红外感应器控制的防风罩。XP6U**微量天平具有无可比拟的称量准确性，并且可以灵活使用各种去皮容器。 梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U／XP6U**微量天平专为提高称量效率和可靠性而设